本文標(biāo)題："掃描電容顯微鏡的應(yīng)用-上海光學(xué)儀器廠"
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掃描電容顯微鏡的應(yīng)用-上海光學(xué)儀器廠
掃描電容顯微技術(shù)是將一仟赫茲的AC 偏壓加在欲測半導(dǎo)體試片上或?qū)щ娞结樕希?/div>
使此二者之間產(chǎn)生電場，經(jīng)由電場的改變，探針下的自由載子可以改變成為帶正電荷或負電荷，而形成載子空乏或累積區(qū)域，
此現(xiàn)象可視為移動的電容板。
決定此電容板移動的距離之三個主要因素為施加電場的強度、導(dǎo)電探針與半導(dǎo)體間之介電層（通常為氧化層）的品質(zhì)與厚度、
及自由載子的濃度。自由載子可視為屏障或接收外加電場；當(dāng)電場強度越大或自由載子濃度越低，
則表面空乏層就會越深。導(dǎo)電探針與半導(dǎo)體間之介電層的厚度越大，則通過的電壓降越大。簡而言之，
掃描電容顯微技術(shù)就是一種具平面解析度的C-V量測技術(shù)，藉由監(jiān)測外加AC波形偏壓變化下的電容變化值，而觀察與分析出載子濃度的多維動態(tài)影像。
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