本文標(biāo)題："顆粒粒度測(cè)定方法-電子顯微鏡法"
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顆粒粒度測(cè)定方法-電子顯微鏡法
顆粒粒度測(cè)定方法：常用的顆粒粒度測(cè)定如下：
方 法
適用粒度范圍(µm)
一 尺量
肉眼方便的粒度
二 篩分(Screening)
實(shí)驗(yàn)篩：10,000~74(Subsieve Size 可測(cè)至 10µm)
工業(yè)篩：100,000~150
三 升流法(Elutriation)
40~5
四 顯微鏡(光學(xué))法
50~0.25
五 沉降法(Sedimentation) 重力場(chǎng)中：40~1.0；離心場(chǎng)中：5~0.05
六 電子顯微鏡法
1~0.005
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