本文標(biāo)題："非均質(zhì)礦物的光學(xué)雙折率的測定礦物顯微鏡應(yīng)用"
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非均質(zhì)礦物的光學(xué)雙折率的測定礦物顯微鏡應(yīng)用
雙折率的測定同一礦物，切片方向不同，其雙折率亦
不同，測定礦物的雙折率，是指最大雙折率，所以必須在
定向切片中進(jìn)行，一軸晶要選平行光軸的切片；二軸晶要
選平行光軸面的切片，它們的干涉色都是最亮的，其測定
方法如下。
1 、選擇干涉色最高的切片，利用石英楔測定其干涉
色級序；2 、利用同一薄片中已知雙折率的礦物，估計(jì)礦
片的厚度；3 、根據(jù)測定的干涉色級序及估計(jì)薄片厚度，
應(yīng)用干涉色譜表求出相應(yīng)的雙折率。
不管光線如何傾斜，其光波的振動(dòng)平面仍然與下偏光
振動(dòng)方向平行。
如前所述，非均質(zhì)礦物的光學(xué)性質(zhì)有方向性，對于不
同方向射入的光所顯現(xiàn)的光學(xué)效應(yīng)是不同的，當(dāng)許多不同
方向的入射線同時(shí)通過晶體后，在到歷上偏光鏡時(shí)所發(fā)生
的消光與干涉效應(yīng)也各不同相同，所以在錐光鏡下所觀察
到的，應(yīng)當(dāng)是偏光錐中各個(gè)入射光上偏光鏡干涉色圖形，
一般稱為干涉圖。
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