本文標題："晶粒測量用工具顯微鏡-晶粒邊界測量金相顯微鏡"
發布者：yiyi ------ 分類: 行業動態 ------
人瀏覽過-----時間：2014-10-5 20:38:57
雖然晶粒內部位錯密度的增加是很重要的加工硬化的來源，
但是我們不可忘記，晶粒邊界也是相當有效的阻止滑動的障礙，
所以也是一種加工硬化的來源。當形變量低時，晶粒邊界硬化占主
導地位，此時晶粒內的位錯密度很低，晶粒邊界成為滑動的主要障
礙;當位錯穿過晶粒內的位錯林或纏結越來越難時，
也就是當應變量大時，穎拉邊界硬化的相對重要性就降低了。
下面我們將主要考察晶粒邊界的存在如何增加使樣品變形所必需的
應力以及這一應力(對于一給定的應變)與晶粒大小的關系。
后一篇文章：粘結劑通常是熱塑性聚合物材料-顯微結構均勻 »
前一篇文章：« 金屬機械滲鍍加工常識-金屬零件檢測顯微鏡
tags:技術,金相顯微鏡,上海精密儀器,
晶粒測量用工具顯微鏡-晶粒邊界測量金相顯微鏡,金相顯微鏡現貨供應
本頁地址：/gxnews/1904.html轉載注明
本站地址：/
http://www.xianweijing.org/