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本文標(biāo)題："電子封裝檢測用工具顯微鏡-便攜式光學(xué)儀器"

發(fā)布者：yiyi ------ 分類: 行業(yè)動態(tài) ------ 人瀏覽過-----時(shí)間：2014-8-3 17:56:20

電子封裝檢測用工具顯微鏡-便攜式光學(xué)儀器

近年來，由于納米填料有聚合成大塊的趨勢，很多人對納米顆粒的

擴(kuò)散問題進(jìn)行了研究。用納米ACA/ACF對小間距電子器件進(jìn)行連接時(shí)，需要解決導(dǎo)電

顆粒的擴(kuò)散問題。最常用的方法包括物理方法(如聲波講解法)和化學(xué)方法

(如表面化學(xué)劑)。

最近，為適應(yīng)下一代高性能電子封裝，有人提出了一種新的ACA/ACF原位自生納米

填料方法。這種新方法在Z方向的導(dǎo)電性和極細(xì)小間距( <100nm)下稼定性都比較好。

在燒結(jié)過程中，用納米顆粒的原位自生的方法，可以達(dá)到與在樹脂材料中增加納米

顆粒數(shù)量同樣的效果。利用納米顆粒的原位自生性，

在燒結(jié)過程中可以有效阻止顆粒團(tuán)聚，而且可以克服納米顆粒表面易氧化的缺點(diǎn)。

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電子封裝檢測用工具顯微鏡-便攜式光學(xué)儀器,金相顯微鏡現(xiàn)貨供應(yīng)

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